采用单目多投影结构光技术，无需设备移动便可快速对被测物高度差、平面度等3D信息进行高精度测量，适用于3C产品、电路板芯片、精密零件检测等领域。

• 一键式大视野面阵扫描，快速在线检测三维形貌

• 多方向投影点云融合，有效消除测量阴影

• 多种测量方案，可测量高度、体积、平面度  

• 静态设计、安装简单，无需高精度的复杂运动机构